Новости

Кафедра ОЭПиС на SPIE Optical Metrology 2017

С 25 по 29 июня 2017 г. в городе Мюнхене состоялся очередной конгресс SPIE Optical Metrology – одно из крупнейших мероприятий в Старом Свете в области оптики. От кафедры ОЭПиС в нем приняли участие:

 

– Васильев А.С. – тьютор кафедры, молодой кандидат наук;

– Клещенок М.А. – аспирант 3 года;

– Васильева А.В. – аспирант 1 года;

– Булыкина А.Б. – магистрант 2 года, выпускница 2017 г.;

– Глебов В.А. – магистрант 1 года;

– Блохина А.А. – студент 4 курса специалитета;

– Репин В.А. – студент 4 курса специалитета.

 

Участие в подобных мероприятиях – хорошая возможность для молодых специалистов познакомиться с современными трендами в области оптики и фотоники, пообщаться с коллегами из других стран, оценить свой научно-технический уровень, завести полезные связи в международной молодежной «оптической» среде.


#путешествуйсоэпис #путешествуйспользой

Информация © 2015-2017 Университет ИТМО
Разработка © 2015 Департамент информационных технологий